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基于Van Atta阵的介电常数测量系统和方法

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1、电常数计算设备接收所述测量天线阵发送的所述测量信号的反射信号, 根 据所述反射信号计算所述待测物的介, 所述方法包 括: 使用所述测量天线阵以预设的频率、 极化方式和持续时长发射测量信号; 使用所述介 使用如权利要求1至5中任 意一项所述的系统测量放置在所述VanAtta阵的远场区的待测物的介电常数包括用于 接收所述反射信号的探头。 6.一种基于Van Atta阵的介电常数测量方法, 其特征在于,的阵元采 用低剖面结构。 5.根据权利要求1至3中任意一项所述的系统, 其特征在于, 所述测量天线阵测物的介电常数。 4.根据权利要求1至3中任意一项所述的系统, 其特征在于, 所述Van Atta阵。

2、装有基于逆散射算法的介电常数计算软 件, 所述介电常数计算软件根据所述矢量网络分析仪的输出计算所述待 其特征在于, 所述介电常数计算设备包括矢量网络分析 仪和介电常数计算单元, 所述介电常数计算单元预开关阵列, 用于控制所 述测量天线阵中天线的发射所述测量信号的时间。 3.根据权利要求1所述的系统,述反射信号计算所述待测物的介电常数。 2.根据权利要求1所述的系统, 其特征在于, 还包括测量天线阵述介电常数计算设备与所述测量天线阵连接, 接收所述测量天线阵发送的所述测量 信号的反射信号, 根据所作频率和极化方式根据所述测量信号设置, 所述Van Atta阵的回 溯方向图覆盖所述测量天线阵; 所。

3、述测量天线阵相对设置, 所述VanAtta阵的口径大于所述待测物的 直径, 所述VanAtta阵的工nAtta阵反射后的反射信号, 并 将所述反射信号发送至介电常数计算设备; 所述VanAtta阵与所的远场区, 用于使用预设的频率和极化方式发 射测量信号, 以及接收所述测量信号经待测物作用和所述Va系统包括测量天线阵、 VanAtta阵和介电常数计算设备, 所述测量天线阵设置在所述VanAtta阵CN 111983330 A 1.一种基于Van Atta阵的介电常数测量系统, 其特征在于, 所述稳定性。 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 CN 111983330 A 2020.11.24 。

4、量 信号反射回测量天线阵, 可确保测量天线阵处接 收到的反射信号的能量和信噪比, 提高测量精度 及其计 算待测物的介电常数。 上述系统利用Van Atta阵 的电磁波回溯功能, 自动将经待测物作用的测率和极化方式 根据测量信号设置, 回溯方向图覆盖测量天线 阵。 介电常数计算设备根据接收到的反射信号ta阵反射 后的反射信号。 Van Atta阵与测量天线阵相对设 置, 口径大于待测物直径, 工作频线阵设 置在Van Atta阵的远场区, 用于发射测量信号和 接收测量信号经待测物作用和Van At介电常 数测量系统和方法。 所述系统包括测量天线阵、 Van Atta阵和介电常数计算设备。 测量天于Van Atta阵的介电常数测量系统和方 法 (57)摘要 本申请涉及一种基于Van Atta阵的 代理人 邱轶 (51)Int.Cl. G01R 27/26(2006.01) (54)发明名称 基亮郑月军陈强肖科 付云起柴舜连 (74)专利代理机构 长沙国科天河知识产权代理 有限公司 43225国人民解放军国防科技大学 地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路 109号 (72)发明人 丁21)申请号 202011152603.5 (22)申请日 2020.10.26 (71)申请人 中19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日。

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