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基于线结构光传感器的叶片截面轮廓高精度检测方法

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1、的X轴角位移器和Y 轴角位移器, 根据步骤 (25) 所述的回转轴线偏转角调节X轴角位移器和Y轴角位片截面轮廓高精度检测方法, 其特 征在于: 所述转台的底面安装有微调机构, 所述微调机构包括上下叠加转角调节转台面, 即同时实现转台面和回转轴线的标定。 2.根据权利要求1所述的基于线结构光传感器的叶转中心点O1、 O2求解出回转轴线的空间直线方程; 根据空间直线方程可计算 回转轴线偏转角, 根据偏光面与叶片的侧边 基准面相交, 重复步骤 (21) (23) 获取旋转中心点O2; (25) 通过旋离相等, 求解出旋转中心点O1; (24) 沿移动坐标系Z轴移动线结构光传感器, 线结构光传感器的激。

2、行直线拟合获得三条直线L1、 L2、 L3, 根据旋转中心点O1到三条直 线L1、 L2、 L3的距1) 和步骤 (22) 所述叶片的侧边基准面为同一 基准面; (23) 对数据M1、 M2、 M3进持线结构光传感器的位姿不变, 线结构光传感器采集 侧边基准面的轮廓线点数据M3; 其中, 步骤 (2光传感器的位姿不变, 旋转转台后线结构光传感器采集侧边基准面的 轮廓线点数据M2; 再次旋转转台且保激光 面与叶片的侧边基准面相交, 线结构光传感器采集基准面的轮廓线点数据M1; (22) 保持线结构线标定采用以下步骤: (21) 将待测叶片放置于转台上, 调整线结构光传感器的位姿使线结构光传感器的。

3、曲线 特征数据转换至坐标系下拼接, 实现对叶片截面轮廓的检测; 其特征在于: 步骤 (20) 回转轴线与回转轴线平行; (30) 待测叶片的截面轮廓检测: 建立全局坐标系, 将数据坐标系采集的叶片截面o-xyz与移动坐标系O-XYZ平行; (20) 回转轴线的标定: 用于标定转台回转轴线, 使叶片轴) 线结构光传感器的位姿标定: 用于标定移动坐标系X、 Y、 Z轴, 使线结构光传感器的 数据坐标系111982019 A 1.基于线结构光传感器的叶片截面轮廓高精度检测方法, 包括如下步骤: (10。 权利要求书1页 说明书4页 附图6页 CN 111982019 A 2020.11.24 CN 。

4、转轴线, 不仅减少了叶片检测前的标定步 骤, 并且标定后的数据误差极小, 对叶片截面曲 线检测更精确的位 置均没有改变, 减少了线结构光传感器平移误 差。 本发明利用一个平整度精度高的基准面来标 定回差, 并且在对 回转轴线和转动中心标定的时不带入转台转动 角度, 减少了旋转误差, 两次转动线结构光叶片截面曲线特征数据 转换至坐标系下拼接, 实现对叶片截面轮廓的检 测; 本发明减少标定物传递产生误面实现对回转轴线的标定; (30) 待测叶片的截面轮廓检测: 建立全局坐标 系, 将数据坐标系采集的检测方法, 包括:(10) 线结 构光传感器的位姿标定;(20) 回转轴下面标定: 利用叶片侧边基准叶片截面轮廓高精 度检测方法 (57)摘要 本发明公开了一种基于线结构光传感器的 叶片截面轮廓高精度51)Int.Cl. G01B 11/24(2006.01) (54)发明名称 基于线结构光传感器的 谢罗峰殷国富 (74)专利代理机构 成都乐易联创专利代理有限 公司 51269 代理人 赵何婷 (川大学 地址 610000 四川省成都市一环路南一段 24号 (72)发明人 殷鸣欧登荧王宗平刘浩浩21)申请号 202011128989.6 (22)申请日 2020.10.21 (71)申请人 四19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日。

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本文标题:基于线结构光传感器的叶片截面轮廓高精度检测方法
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